產(chǎn)品簡介：

  BGA共面度檢測(cè)儀是建立在CCD數(shù)位影像的基礎(chǔ)上，通過柱面物鏡將激光擴(kuò)散為線激光后投射在被測(cè)目標(biāo)物表面形成漫反射.使反射光在CMOS上成像后.通過檢測(cè)位置及形狀的變化測(cè)量位移及形狀.（簡單來說就是通過激光傳感器掃描出被測(cè)物體表面點(diǎn)云形貌.通過軟件抓取點(diǎn).使用最小二乘法.擬合平面.得出平面度.依托于計(jì)算機(jī)屏幕測(cè)量技術(shù)和空間幾何運(yùn)算的強(qiáng)大軟件能力而產(chǎn)生的，具有高度與自動(dòng)化特點(diǎn)。其軟讓坐標(biāo)尺寸測(cè)量變得便捷而愜意，擁有基于機(jī)器視覺與過程控制的自動(dòng)學(xué)習(xí)功能，依托數(shù)字化儀器高速而精準(zhǔn)的走位，可將測(cè)量過程的路徑，對(duì)焦、選點(diǎn)、功能切換、人工修正、燈光匹配等操作過程自學(xué)并記憶。可以輕松學(xué)會(huì)操作員的所有實(shí)操過程，結(jié)合其自動(dòng)對(duì)焦和區(qū)域搜尋、目標(biāo)鎖定、理匹選點(diǎn)的模糊運(yùn)算實(shí)現(xiàn)人工智能，可自動(dòng)修正由工件差異和走位差別導(dǎo)致的偏移實(shí)現(xiàn)精確選點(diǎn)，具有高精度重復(fù)性。從而使操作人員從疲勞的精確目視對(duì)位，頻繁選點(diǎn)、重復(fù)走位、功能切換等單調(diào)操作和日益繁重的待測(cè)任務(wù)中解脫出來，成百倍地提高工件批測(cè)效率,滿足工業(yè)抽檢與大批量檢測(cè)需要。

產(chǎn)品原理：

通過線激光對(duì)芯片有焊錫球及的表面，或者IC上的引腳面進(jìn)行掃描，采集出三維點(diǎn)集數(shù)據(jù)，并由軟件處理生成工件的3D圖形，通過軟件算法提取3D圖中每個(gè)焊錫球的高點(diǎn)或者低點(diǎn)，再用所有最高點(diǎn)或者低點(diǎn)生成一個(gè)平面，并計(jì)算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。

產(chǎn)品應(yīng)用：

BGA共面度檢測(cè)儀廣泛應(yīng)用于晶元、芯片（DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、LGA、PGA）等共面性檢測(cè)，機(jī)械制造、電子、汽車、五金、塑料、模具等行業(yè)，可以對(duì)工件尺寸、形狀和位置公差進(jìn)行精密檢測(cè)，從而完成零件檢測(cè)、外形測(cè)量、過程控制等任務(wù)。

產(chǎn)品規(guī)格：

測(cè)試效果：